ケースレー、パワー半導��のテストコストを下げる提案
パワー半導��のテストコストを下げる提案をケースレー・インスツルメンツが行った。これは、テクトロニクス・ケースレーイノベーション・フォーラムで��らかにしたもの。並�`のパラメータテストやTDDB試�x、高�aバイアス試�x、データ解析での時間�]縮��例を紹介した。 [→��きを読む]
���R�_・検�h・検証
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日本NI、さまざまな無線��格を1��でテストできる万�Ε謄好拭爾魍�発
日本ナショナルインスツルメンツ（NI）が、PXIベースのワイヤレス機�_のテスターWTS（Wireless Test System）を発表した(図1)。この�@���R定�_を使えば、スマートフォンやIoT、無線チップなどの無線デバイスなどの性�ΑΦ��Δ離謄好箸��~単になる。 [→��きを読む]
日立��作所、加�]電圧1.2MVの��高圧透�垠薪纏匕家���を�o開
![日立��作所、加�]電圧1.2MVの��高圧透�垠薪纏匕家���を�o開](/assets_c/900px/150414-hitachi.png "日立��作所、加�]電圧1.2MVの��高圧透�垠薪纏匕家���を�o開")
日立��作所は、分解�Δ�43pm(ピコメートル)と極めて高い透�垠薪纏匕家���（TEM）を開発、このほどメディアに�o開した(図1)。このTEMの加�]電圧は1.2MV(120万ボルト)と��常に高圧で、そのため分解�Δ��屬�り、��来より厚い試料も�荵，任�るようになった。 [→��きを読む]
「サイバーフィジカル時代はスマートATEで�擇�残る」
National InstrumentsはICT業�cのトレンドを常にウォッチしており、毎�Qトレンドに関する冊子を発行している。今�Qは、5Gと、それに伴うIoTの普及によって�噞��のIoTすなわちIIoTによる機械の���Σ�、それによる新しいモノづくり革命、さらにATE（�O動テスト����）の変革、について触れている。 [→��きを読む]
Mentor Graphics、チップ、サブストレート、PCBを協調設��できるツール
Mentor Graphicsは、マルチチップ時代に�官�して、�QICの端子データ、マルチチップを搭載したパッケージの端子データ、そのICパッケージを搭載するプリント配線基��の端子データ、��てを協調設��するためのツール、Xpedition Package Integratorを発表した。これにより、チップの端子からプリント配線��まで同時に設��できるようになる。 [→��きを読む]
キーサイトの新型1/fノイズ�R定�_、IoTのセンサ、ジッタの�h価にも
「1/fノイズを�Rりたい」と思うエンジニアに福音。Agilent Technologiesから�R定�_�靆腓�独立したKeysight Technologiesの日本法人、キーサイト・テクノロジーは、低周�S雑音が極めて低い1/f�R定�_を開発した。1/fノイズの�莟Rできる周�S数が20Hz以下と低く、ホワイトノイズが��めるノイズフロアも��来の-177dB2/Hzから-183dB2/Hzと下がった。 [→��きを読む]
National Instruments/AWRが5G、IoTの通信設��容易化ツールを発表
ソフトウエアベースの�R定�_メーカーNational Instrumentsが、マイクロ�SのCAD/CAEベンダーのAWRを�A収して3�Q。通信�\術が4Gから5Gへ向かうにつれ、両�vのシナジー効果(参考�@料1)が��確に表れてきた。��雑な5G�\術をソフトウエア無線（Software defined radio）で�官�し、マイクロ�S･ミリ�S�v路をAWRのAnalyst/AXIEMシミュレータで設��する。 [→��きを読む]
アドバンテスト、次世代ドライバ･アナログ･メモリのテスターを顔見せ
アドバンテストが、セミコンジャパンでテスター新����を発表した。タッチセンサを集積したLCDドライバIC向けのテスター「T6391」(図1)や、モジュール�擬阿任気泙兇泙淵▲淵蹈�IC/ミクストシグナルICに�官�した「EVA100」(図2)、512個のメモリの�a度��性を�Rるハンドラ「M6245」(図3)などだ。 [→��きを読む]
日本NI、半導��分野への進出の狙いを池田社長に聞く(動画)
池田 亮����、日本ナショナルインスツルメンツ 代表�D締役
ソフトウエアベースの���R�_を進めてきたNational Instrumentsが最�Z、半導����のテスター分野に参入した。彼らのコアとなるPXIモジュラーシステムをベースにした、半導����のテスターをリリースした(参考�@料1)。日本法人日本ナショナルインスツルメンツ代表�D締役の池田亮����にその狙いを聞いた。(動画あり)
[→��きを読む]フレキシブルに進化するテスターで半導��業�cに本格参入する日本NI
����1��に数��のボードモジュールを差し込む�擬阿�、ディスプレイ表��やデータ処理にパソコンを使うという�R定�_を開発してきたNational Instrumentsは、半導��テスター分野にも本格的に乗り出してきた。同社の日本法人、日本ナショナルインスツルメンツは1日のイベントNIDaysを開��、半導��テスター(図1)開発の背景を��らかにした。 [→��きを読む]
