NI、RF/ミクストシグナルIC羹けフレキシブルなテスタ〖をリリ〖ス
National Instrumentsは、染瞥攣チップの光拉墻步ˇ光怠墻步に圭わせてフレキシブルで浩菇喇材墻な染瞥攣テストシステムSTS∈Semiconductor Test System∷を倡券した∈哭1∷。RFやミクストシグナル染瞥攣のテスト羹け。オ〖プンなモジュラ〖數及のPXIハ〖ドウエアプラットフォ〖ムをベ〖スにしているため、悸賦脫から翁緩脫にPXIを籠肋するだけで敗乖できる。呵絡の潑墓は倡券から翁緩までの袋粗沒教だ。
哭1 NIが倡券したRF/ミクストシグナルIC羹けのフレキシブルテスタ〖
潑拉刪擦に蝗ったソフトウエアとハ〖ドウエアを翁緩においてもそのまま蝗えるため、タイムツ〖マ〖ケットを沒教できる。倡券と翁緩でのデ〖タの陵簇をとることは詞帽にできるとしている。PXIシステムは弓バンド升のPCI Expressバスを篩潔としているため、戮のデバイスや劉彌と儡魯材墻だ。このPXIのエコシステムを網脫することで、テストプログラム侯喇をサ〖ドパ〖ティに巴完することもできる。
裁えて、孟刻などの閡巢により供眷がストップして、戮の供眷で瀾墑を洛侖え欄緩する眷圭もすぐに灤炳できる。驕丸なら供眷ごとに瀾墑が般っていてテスタ〖そのものも般う眷圭が驢い。しかし、STSだと、ある瀾墑が賄まっても、DUT嬸尸を艱り垂えるだけで、蕊閡した供眷のテストプログラムをそのまま敗竣できる。ハ〖ドウエアが鼎奶だからだ。デ〖タの奶慨プロトコルも鼎奶である。
染瞥攣の礁姥刨が懼がるにつれ、テストカバレ〖ジを呵努步するテストシステムは、欄緩拉を懼げるうえで端めて腳妥になってくる。しかもコストを懼げずに礁姥刨を懼げた肌坤洛チップのテストをしたいはず。潑にミクストシグナル染瞥攣瀾墑では、このPXIベ〖スのSTSテストシステムは驕丸のテスタ〖よりも你コストでカバレ〖ジを懼げることができる、とInfineon Technologiesの極瓢賈脫賈攣エレクトロニクス瀾墑のシニアデザイン&アプリケ〖ションエンジニアのHans-Peter Kreuter會は揭べている。
潑に、呵糠のワイヤレス禱窖で蝗われるRFとミクストシグナルの染瞥攣糠瀾墑をテストする眷圭、驕丸のATEで蝗われたテストカバレ〖ジが概すぎることもあるという。オ〖プンでモジュラ〖ア〖キテクチャのこの糠瀾墑では、TestStandテスト瓷妄ソフトウエアとLabVIEWシステム肋紛ソフトウエアを額蝗できるため、染瞥攣瀾隴にとって誰少な慌屯をプログラム步できる。カスタマイズ材墻な拎侯インタ〖フェ〖スや、ハンドラとプロ〖バの琵圭步、迫極のピン芹彌を積つデバイス蓋銅のプログラミング、テストデ〖タ妨及の篩潔弄なレポ〖ティング、マルチサイトのサポ〖トなどが材墻となる。これらの怠墻を蝗い、テストプログラムの倡券とデバッグ、悸乖を玲めることができる。
勢柜面嬸箕粗8奉5泣から倡號されたNIWeek 2014において、NIがデモしたサンプル(シミュレ〖ション)では、DCパラメ〖タテストからACテスト、冊畔炳批テスト、光件僑のsパラメ〖タなど、RFデバイスに澀妥なテスト灌謄を辦街のうちに貉ませられる。さまざまな盧年掘鳳はGUI∈Graphical User Interface∷を蝗ってパラメ〖タを恃えると、冊畔炳批の僑妨の箕粗即や排暗即を橙絡し、リンギングなどの僑妨の券慷を澄千できる。また、デバイスそのものを恃える眷圭には、PXIプラットフォ〖ムに烹很しているFPGAを今き垂えればよい。そのサポ〖トスフトウエアもLabVIEWと鈣ばれる、肋紛倡券ツ〖ルを蝗って今き垂えることができる。
NIはハ〖ドウエアプラットフォ〖ムのPXIシステムと、LabVIEWを灑えているため、排灰システムの肋紛とテストには、件收攙烯システムを寥み哈むだけですむ。このSTS染瞥攣テスタ〖が、この件收攙烯システムに陵碰する。
悸狠のSTSシステムは、奶撅のATEのように、染瞥攣瀾墑をテストするボ〖ドと、ハンドラを艱り燒け、テストする。ウェ〖ハ懼でのテストももちろん材墻。STSシステムには3鹼梧の劉彌があり、それぞれPXIシステムを1駱、2駱、4駱を烹很できる。活侯脫、面憚滔欄緩脫、絡翁欄緩脫、と蝗い尸けることができる。
哭2 National Instruments家Automated Test Marketingのシニアマネ〖ジャ〖、Luke Schreier會
NIのPXIシステムの勒扦莢である、Automated Test Marketingのシニアマネ〖ジャ〖であるLuke Schreier會(繼靠2)によると、票家はこれまで17鉗粗に畔って、PXIモジュ〖ルを倡券してきた。PXIシステムには、涇攣(シャシ〖∷にシグナルアナライザや、ファンクショナルテストやプロトコルアウェアテスト、光廬シリアルインタ〖フェ〖スなどのモジュ〖ルを寥み哈んでいる。こういったモジュ〖ルは600鹼梧にも第ぶという。これらのPXIモジュ〖ルをカ〖エレクトロニクスや供度怠達、掛鄂ˇ抱描脫怠達などの尸填で悸烙を姥んできた。海攙のSTS涇攣にPXIシステムを烹很した染瞥攣テスタ〖は、PXI炳脫の變墓俐懼にある。
海稿、NIは稱PXIモジュ〖ルの拉墻ˇ怠墻を籠動し、PXIシステムを渴步させる。染瞥攣テスタ〖も票屯に渴步する。海攙、NIは染瞥攣緩度に羹けてテストベッドまで侯り哈んだが、これをさらにカスタマイズするつもりはない。むしろオ〖プンなプラットフォ〖ム數及であるから、サ〖ドパ〖ティに染瞥攣脫のテストベンチを侯瀾してもらう數羹だ。NIとしてはPXIモジュ〖ルをさらに渴步させていくことに漓前する。
