Semiconductor Portal

» セミコンポータルによる分析 » \術分析 » \術分析(半導)

IIoTアーキテクチャがzになってきたNIWeek 2015 (2)

National Instrumentsが主するNIWeek 2015(参考@料1)では、工業IoT(IIoT)を使い、さまざまなシステムを開発した例が発表された。心臓/△мq、Cirrus LogicのオーディオコーデックICのテストデータを解析する企業、豢機の翼や機の異常を音Sで検出する例などを紹介する。いずれもデータ解析機Δ鮴澆韻討り、「IIoT Ready」になったとしている。

心臓/△凌]化を図る
心臓/△任蓮▲疋福次閉鷆’v)が現れるまで通常は8ヵ月かかると言われている。さらにドナーが見つかった後でも、患vの心臓を素早く交換するために、最適な心拍タイミングなどを予めシミュレーションしておくことが望ましい。/△k刻を争う。その適合性や患vのに合った心拍挙動を予め瑤辰討けば、スムーズな/△できるようになる。心臓患v向けの心臓シミュレータや人工心臓を開発しているドイツのBerlin Heart社は、テキサスΔ両(j┼n)Sarahさんに心臓シミュレータシステムを適し、心臓/△鮴功に導いたという。図1はいたシステムである。p]に瑤擦翠]のポンプを作り、ポンプに送る空気圧、使する2次電池やそのU(ku┛)御v路などを組み込んだ。NIのLabVIEWでテスト設定やv路設を行った。シミュレーションにってポンプに送り込む空気圧を定する。テストT果をパソコンへレポートする。


図1 Berlin Heart社が開発した心臓シミュレータ

図1 Berlin Heart社が開発した心臓シミュレータ


なお同社の心臓/мqシステムは、盜颪離謄サス小児院だけではなく、この7月に日本の厚労省の認可をDuしているという。

半導ICのテストデータ解析ビジネス
c效半導メーカーCirrus LogicがNIの半導テスターSTS(参考@料23)を使うことで、オーディオコーデックICのテストカバレージを維eしながらテスト時間を30%]縮できたと述べた。このT果、テストコストを抑えることができた、とCirrus Logics社のテストエンジニアのJohn Cookeはらかにした。NIのSTSテスターが来のテスターと比べて、~W(w┌ng)な点は、開発した半導チップの性h価にいたテスターをそのまま量へ拡張して々圓任ることだとしている。テストのソフトウエアやR定アルゴリズム、PXI、フィクスチャーとケーブルをそのまま量咁にも使える。


図2 NIのSTS半導テスターのメリットは試作と量のテスターをそのまま使えるできること 出Z:National Instruments

図2 NIのSTS半導テスターのメリットは試作と量のテスターをそのまま使えるできること 出Z:National Instruments


今v、NIは半導テストデータを管理するコンサルティングサービス会社のOptimal+(オプティマルプラスと発音)社も紹介した。Optimal+社のマーケティング担当VPのKeith Arnold(図3)によると、半導メーカーのテストデータをて、Optimal+社のデータベースサーバに送りそこに蓄積する。半導チップの性h価(characterization)やAC/DCデータ(パラメータテスト)、ファンクションテストデータ、ハードウエアプログラムなどテストに要なてのデータを管理し、解析、歩里泙蠻曄▲如璽織僖拭璽鵑長抽出などデータ解析に関するての情報を顧客に提供する。顧客には、STMicroelectronicsやFreescale Semiconductor、AMD、Qualcommなどがいるが、Cirrusはまだ顧客になっていないという。


図3 Optimal+社マーケティング担当VPのKeith Arnold

図3 Optimal+社マーケティング担当VPのKeith Arnold


この新しいコンサルティングサービスはに問がきた時に威を発ァする。テストを行うOSAT(Out-Sourced Assembly and Test)のテストデータとOptimal+のデータベースサーバはインターネットを通じて常に接されており、リアルタイムにデータのk致性を保証する。たまにはOSATの作業vの入ミスなどでデータが異なる場合があるが、そのような場合でもt座に発見し、Optimal+は常にデータを保証する。同社の顧客はファブレスやIDMなど半導メーカーである。OSATはテストするだけであり、そのテスト内容には関与しない。このため、Optimal+は半導メーカーとの信頼関係を築き、守秘契約を交わす。同社のビジネスモデルは、データベースソフトウエアをサブスクリプションモデルで販売すると共に、OSATにはテスト解析エンジニアを常駐させておく。9ヵ月iに東Bにもオフィスを設するようになったという。

音Sによる破s検h
NIのテストシステムを使い、音Sによる破s検hイメージングを開発したのがDiagnostic Sonar社である。F婦の内を検hする音Sと原理は同じであるが、カラーで可化して豢機の翼や機のL(f┘ng)陥がないかどうかをリアルタイムでカラー表する。表Cをスキャンして内陲琉枉錣魏化する(図4屐法音Sを発しその反o(j━)Sをpけるため、表Cに水を塗りながらスキャンする(図4下)。デモでは、下地のっぽい基の屬髻白いハンディなデバイスでスキャンしながら、基内陲琉枉錣破sで検hしている。豢機の翼などは通常、蜂の巣Xのハニカム構]になっているが、この構]に異常があれば翼の劣化につながりe険なXになりうる。スキャンしながら、異常を靴たГ妊螢▲襯織ぅ爐防戎する。


図4 NIのテスターを使った音S破s検hによる可化

図4 NIのテスターを使った音S破s検hによる可化


このを開発するにあたって、コントローラにNI社のFlexRIOを使い、カスタマイズすべきところをXilinx社のFPGA「Kintex」をW(w┌ng)した。音Sからの單戰如璽燭鮨けしてリアルタイムで表する演QにZ労したという。

これらの例で見られる共通項は、センサからuられたデータを収集・解析し、システムにフィードバックしていることである。IIoTの新しいアーキテクチャは、データを解析しD理したうえで、インターネットにD理されたデータとして送ることで、ビッグデータ解析のデータ量を(f┫)らすことができる。ビッグデータ解析ではHadoop関数をいて、データをH数のコンピュータに振り分け、それぞれ演Qしたのちにもうk度Jねるという操作を行う場合が~だ。このため最初からデータをD理しておけば、ビッグデータの演Qは軽くなり、フィードバックの時間を]縮できる。NIは、「IIoT Ready」の時期に入った、と見ている。


参考@料
1. IIoTアーキテクチャがzになってきたNIWeek 2015 (1) (2015/08/05)
2. NI、RF/ミクストシグナルIC向けフレキシブルなテスターをリリース (2014/08/07)
3. フレキシブルに進化するテスターで半導業cに本格参入する日本NI (2014/10/29)

(2015/08/13)
ごT見・ご感[
麼嫋岌幃学庁医 音触互賠av返字壓濆杰| 晩云嶄猟忖鳥壓濆杰| 爺爺符忝栽利嫋| 字依湊間湊啣的棒低| 爾秤忝栽利励埖爾秤| 恷除2019嶄猟忖鳥窒継心恷仟 | 忽恢娼瞳牽旋匯曝屈曝| 忽恢眉雫壓濆杰簡嗤)| 冉巖牽旋篇撞利峽| 冉巖忽恢娼瞳忝栽消消利大| 冉巖岱鷹涙鷹喟消音触壓| 匯云消消a消消娼瞳vr忝栽| 消消消消999| 課櫪篇撞壓濆杰柑| 牽旋匯曝屈曝篇撞| 晩昆岱鷹繁曇涙鷹嶄猟篇撞| 撹定溺繁18雫谷頭谷頭窒継 | 忽恢撹繁娼瞳匯曝屈曝昼田| 編心120昼恂鞭弌篇撞窒継| 襖謹勸潤丗溺縮弗| 返字心頭匯曝屈曝| 忽恢撹繁忝栽壓濆杰翰嫋| 忽恢匯触屈触膨触窒継| 窒継心v頭利嫋| 冉巖天胆晩昆総窃娼瞳匯曝屈曝眉曝| 消消兢娼瞳忽恢冉巖AV| imim5.vip| 欧腿築篇撞壓濆杰| 天胆來伏試篇撞窒継| 晩恢鷹匯触屈触眉忽恢岱鷹| 忽恢娼瞳窒継寄頭| 繁曇嶄猟忖鳥涙鷹廨曝| 冉巖嶄猟忖鳥消消娼瞳涙鷹va| 消消消娼瞳匯曝屈曝眉曝| freesex1718侃xx| 析望字67194娼瞳濆杰| 襖謹勸潤丗崙捲嗾雌| 嘛稱啼虐斛濆杰潅盞| 忽恢娼瞳忽恢眉雫忽恢噸宥三a| 卅繁秤繁忝栽利| 消消娼瞳忽恢匯曝屈曝眉曝景砥 |