アドバンテスト、肌坤洛IC瀾墑羹けのテスタ〖を魯」券山
アドバンテストが肌坤洛IC瀾墑に羹けたテスタ〖をセミコンジャパン2022で陵肌いで券山した。メモリテスタ〖≈inteXcell∽∈哭1∷や、VR/ARなどのディスプレイや賈很脫光籃刨ディスプライドライバICテスタ〖羹けのモジュ〖ル≈LCD HP∽、USB-Type Cのパワ〖デリバリ〖ICテスタ〖羹けモジュ〖ルなど踏丸恢羹の瀾墑羹けのテスタ〖やモジュ〖ルなどである。
哭1 セミコンジャパン2022で悸怠を鷗績したアドバンテストの≈inteXcell∽
メモリのような絡翁欄緩墑では、辦刨に絡翁に盧年できるようにするため事誤刨を懼げてきた。2009鉗に512改のメモリを辦刨に盧年できるテスタ〖を叫した稿、2019鉗に768改事誤のテスタ〖ができるようになった。とはいえ、事誤刨を懼げるたびに靜燙姥が絡きくなるようでは、供眷を弓くせざるを評なくなる。そこで靜燙姥の跟唯を懼げたテスタ〖が滇められる。
候鉗、DRAMもNANDフラッシュも、NVRAM∈稍帶券拉RAM∷もテストできるメモリテスタ〖≈T5835∽をセミコンジャパンで券山したが∈徊雇獲瘟1∷、このテスタ〖は1駱で呵絡512改の事誤刨であった。この瀾墑はテスタ〖とハンドラ〖が侍」に芹彌されていたが、海攙の糠瀾墑では、ハンドラ〖の懼にテスタ〖を彌くという菇喇にして、靜燙姥の籠絡を娃えた。裁えて、テストヘッドを肋けたテスタ〖とハンドラ〖のセットを燒け顱すだけで事誤刨を籠すことができるようにしたため、橙磨拉が光くなった。
糠瀾墑では、T5835テスタ〖で呵絡384改の事誤刨で菇喇した1セルを答塑菇喇として、768改の2セル菇喇では靜燙姥は19.5m2だが、4セル菇喇で事誤刨を2擒に懼げた呵絡1536改のテスタ〖が27m2にしか弓がっていない。
DDIC羹けのテストモジュ〖ル
ディスプレイドライバ〖ICといってもテレビやパソコンモニタ〖のような慌屯ではなく、AR/VRに蝗える光拉墻なDDICや、∞40Vの光排暗活賦にも灤炳したDDICをテストできるテスタ〖が滇められ、LCD HPモジュ〖ルはこれに灤炳したもの。AR/VR脫龐ではきれいな茶嚨を斧せるため、光い脒拇が妥滇され、このため叫蝸排暗は嘿かいステップが滇められる。 脒拇ステップ1檬はLSB∈Least Significant Bit∷と鈣ばれ、∞1mV鎳刨がICには妥滇される。
そうすると悸蝸猛としては眶紗μVになる。テスタ〖はそれよりもさらに井さな排暗の尸豺墻が滇められる。AR/VRではDDICの叫蝸排暗は1V鎳刨であり、これを10ビット、すなわち1024尸の1で尸侍しなければならない。そこで、このモジュ〖ルでは∞200μV∈士堆32攙∷、∞400μV∈票4攙∷のスペックでよいのかどうかをユ〖ザ〖∈DDICメ〖カ〖∷に刪擦してもらっている檬超だという。2023鉗4奉には券卿する徒年である。
USB-Cパワ〖デリバリ〖IC羹けテストモジュ〖ル
パワ〖マネジメントIC∈PMIC∷などの光排暗ICを盧年するためのボ〖ド∈カ〖ド∷≈XPS128+HV∽は、アドバンテストのSoCや黎眉パッケ〖ジICなどのテスタ〖≈V93000∽羹けに倡券された。呵絡24Vで、呵絡128チャンネルのカ〖ドであり、USB-Type C慌屯のパワ〖デリバリ〖ICやPMICに灤炳したもの。V93000は、カ〖ドを掐れ侖えるだけでいろいろなICのテストができるようなテスタ〖のプラットフォ〖ムである。
海攙、V93000羹けの糠排富カ〖ド≈XPS128+HV∽は、USB-Type Cのパワ〖デリバリ〖慌屯において、呵絡排暗20V、呵絡排萎3Aプロファイル4と、呵絡20Vで呵絡排萎5Aのプロファイル5に灤炳するモジュ〖ルで、-10Vから+24Vまでの光い排暗と排萎を128改のICを事誤にテストできる。
戮にもアドバンテストは、EUV羹けのフォトマスクの風促を浮漢するSEM∈瘤漢房排灰覆腮獨∷≈E5620∽や、テストデ〖タをクラウド懼で殊偽まり尸老したり、パラメトリックテストを極瓢步したりするサ〖ビス瀾墑も疽拆している。票家は2020鉗のセミコンジャパンでクラウドサ〖ビスに蝸を掐れることを券山したが∈徊雇獲瘟2∷、すでにACS∈AdvantestCloudSolutions∷と鈣ぶサ〖ビス睛墑が叫ている。テストプログラムの倡券やデバッグの侯度拉を懼げる≈ACS TE-Cloud∽や≈ACS DPT∽、≈ACS Edge∽、≈ACS Nexus∽などの睛墑がある。
徊雇獲瘟
1. ≈アドバンテスト、テスト箕粗沒教を晾ったテスタ〖を魯」リリ〖ス∽、セミコンポ〖タル (2021/12/122)
2. ≈アドバンテスト、テスタ〖の任卿からクラウドによるテスト尸老度壇へ橙絡∽、セミコンポ〖タル (2021/01/05)
