アドバンテスト、テスタ〖の任卿からクラウドによるテスト尸老度壇へ橙絡
アドバンテストは、テスタ〖の瀾隴ˇ任卿だけではなく、クラウドベ〖スでテストしたデ〖タを箭礁ˇ臘妄ˇ尸老するようなコンサルティングビジネスを海稿伴てていくことをSEMICON Japan 2020で券山した。2020鉗7奉に染瞥攣瀾隴のビッグデ〖タを緘齒けているPDF Solutions家と捏啡、そのデ〖タ豺老禱窖を網脫する。
哭1 アドバンテストのクラウドACSを網脫してテストデ〖タから劉彌の蒼漂覺斗まで染瞥攣瀾隴に風かせない攫鼠を鼎銅ˇ瓷妄ˇ瘦賂ˇ尸老する慌寥み 叫諾¨アドバンテスト
アドバンテストが券山したAdvantest Cloud Solutions∈ACS∷は、染瞥攣チップの肋紛刪擦からウェ〖ハ瀾隴、呵姜ウェ〖ハテスト、アセンブリ稿のパッケ〖ジングした稿の呵姜テスト、さらにはチップをボ〖ドに寥み哈んだ稿のシステムテストに魂る鏈てのテストをクラウド懼で瓷妄し、デ〖タを鼎銅し豺老するというもの∈哭1∷。
染瞥攣の鏈ての供鎳ではさまざまなテストを乖いデ〖タを艱るが、これまではそれぞれのデ〖タがサイロのようにバラバラに彌かれており、陵高の簇息が評られず豺老しにくかった。そこで、染瞥攣肋紛から瀾隴の鏈ての供鎳においてデ〖タをクラウドに懼げ鼎銅し、尸老に寵かそう、とアドバンテストは雇えた。
もし輝眷稍紊が券欄し、チップに部かしらの付傍がありそうなことがわかった箕、どの供鎳でどのような旺悟があったのか、を詞帽に悄愛できる。その旺悟と戮の賴撅墑との般いを斧つけることでどの供鎳が纏しいのかを夸年できる。ある鎳刨の眶翁の肝俱サンプルが礁まれば、AIにかけて澈碰供鎳を充り叫せる。妥は、さまざまなデ〖タの琵紛借妄と陵簇を滇めることで肝俱豺老が材墻になる。これまでのバラバラのサイロのデ〖タでは、そのような眷圭に灤借するには箕粗がかかりすぎていた。
このためにビッグデ〖タ豺老に年刪のあるPDF Solutions家と2020鉗7奉に捏啡圭罷に茫し、PDF家と定蝸してACSを菇蜜し幌めた。PDF家が積っているデ〖タ借妄プラットフォ〖ムPDF Exensioを網脫する。これまで、アドバンテストが積っているいくつかのソリュ〖ション∈ACS EM360、ACS Smart-Insight、ACS TE-Cloud∷に、PDF家の積っている借妄ˇ豺老ツ〖ル∈PDF Exensio Process Control、PDF Exensio Test Operations PDF Exensio Mfg. Analytics∷を納裁することで∈哭2∷、鏈ての供鎳でのACSがシ〖ムレスにつながるようになる。
哭2 アドバンテストのテストデ〖タとPDF家の豺老ツ〖ルを寥み圭わせクラウド懼のPDF Exensioでデ〖タ豺老する 叫諾¨アドバンテスト
これらのツ〖ルをシ〖ムレスにつなげると、染瞥攣の鏈供鎳におけるデ〖タを鼎銅できるため、システムレベルで斧つかった部らかの稍惡圭に灤してフィ〖ドバックをかけたり、ある供鎳での覺輪をフィ〖ドフォワ〖ドしたりすることによって、禍漣に紊い數羹に肋年することができるようになる。PDF家のトレ〖サビリティ怠墻を網脫すれば、刀濕チップではなく塑濕のチップかどうかを詞帽に斧つけられるだけではなく、どの供鎳で稍惡圭が彈きたのかを潑年できる∈哭3∷。
哭3 システムレベルでの稍惡圭があればすぐにフィ〖ドバックして豺老し、フィ〖ドフォワ〖ドで呵努掘鳳を捏丁する 叫諾¨アドバンテスト
SEMICON Japanにおいてアドバンテストは、クラウド網脫の糠しいサ〖ビスだけではなく、驕丸のSoCテスタ〖V93000や、繞脫テストプラットフォ〖ムT2000のグレ〖ドアップなどに簇しても券山している。染瞥攣テスタ〖の撥莢らしい燙といえる。
海攙のV93000 EXA Scaleは、染瞥攣デバイスの構なる光礁姥步に灑えたモノリシックなSoCや、チップレットを礁姥する2.5/3Dパッケ〖ジSoC羹けのテスタ〖である。海稿、7nm/5nmプロセスのLSIチップだとテストベクトルがさらに籠えるだけではなく、ヘテロプロセッサのテストや攙烯憚滔に炳じた借妄の光廬步も澀妥になる。そこで、驕丸8チャンネル尸のプロセッサのテストを16チャネル尸に橙磨した。SoCは你排暗ながら絡排萎になるため1000Aにも灤炳できるモジュ〖ルを脫罷した。さらに、テスタ〖のオ〖バ〖ヘッド箕粗を猴近しデバイスごとのテスト箕粗にした。その看隆嬸となるのが極肩倡券のテストプロセッサカ〖ド∈哭4∷。である。
哭4 テスタ〖の看隆嬸となるプロセッサチップカ〖ド 叫諾¨アドバンテスト
T2000では、CMOSイメ〖ジセンサ漓脫のモジュ〖ルとデジタルスキャンモジュ〖ル、排富モジュ〖ルを糠瀾墑として倡券している。CMOSイメ〖ジセンサをテストするためのモジュ〖ルでは、センサに各を碰てて稱茶燎の風促を赦き摩りにすることでイメ〖ジセンサの紊容を冉年する。呵絡4.8G bpsの廬刨でイメ〖ジをキャプチャ〖できる。モジュ〖ル1綏碰たり4改のセンサをテストできるので刪擦豺老や警翁の盧年が材墻で、スマ〖トフォン脫のセンサのように翁緩テストする眷圭にはT2000に16綏のモジュ〖ルを賃掐することで呵絡64改のCMOSセンサを票箕にテストできる。
デジタルモジュ〖ル500MDMは、鄂武で呵廬の500Mbpsでスキャンし、メモリの考さは呵絡32Gビットとなっている。スキャンメモリは8擒、パタ〖ンメモリは4擒と絡きくし翁緩に灑えている。
また、排富モジュ〖ルDPS32Aは32チャンネルで1チャネルあたり呵絡1Aに灤炳する。肩にディ〖プスタンバイの排萎500nAを盧年できる。しかも帽なる盧年に偽まらず、介袋肝俱のスクリ〖ニングにも蝗える。パルス排萎IDDQの介袋猛と呵姜猛との汗Δを息魯弄に盧年しその件僑眶スペクトルを拇べることで、介袋肝俱になりそうなチップを斧つけ、近殿する。
