2014 IEDMのミステリーを解きほぐす
2014 IEDM(International Electron Devices Meeting)でのjきな問は、IC業cが来に向けてどこに向かっているのかを確にすることだった。
2014 IEDMはこれまでの会議と何ら変わらないというCはあった。2014Q12月中旬、サンフランシスコで開されたこのイベントではいつものチュートリアルから講演、パネルディスカッションまでが行われた。例えば、先端CMOS\術では2.5D/3D ICや、III-V材料、finFET、次世代メモリやトランジスタなどのトピックスがあった。
IEDM開中と開後、本当の問は、いろいろなパズルをk緒にき、業cが10nm以T、どこに向かっているのかを確にすることであった。例えば、2013 IEDMでは、ホットなBのkつがトンネルFET(TFET)と}ばれる次世代トランジスタ\術であった。Intelは低電圧化を可Δ砲垢襯汽屮好譽奪轡腑襯撫Aの峻なデバイスであるTFETのb文を発表した。しかし、今v、TFETの発表はほとんどなかった。
何がきたのか?業cはTFETを^屬欧砲靴燭里世蹐Δ?あるいはIntelなどのメーカーはTFETをかに開発しているのか?さらにはゲートを四妓から囲む新型FETを半導業cは次のjきなテーマをしているのか?
答えは、IEDMからの様々なシグナルをベースに考えると、TFETや四妓を囲む構]などの次世代トランジスタ構]はおそらく5nmまでは進められるだろう、である。Si以外のIII-V化合馮焼も同様だ。さらに、SOI(silicon on insulator)\術も可性がある。しかし、IBMとSTMicroelectronicsしか}Xけていない。450mmウェーハはまだxんではいないが、休VXである。
CMOSに関しては、今vのイベントではかなり`立った。7nmはどうなるか?チップメーカーは、現在の16/14nm finFETについても議bした。また、7nm以Tの問点についてもBし合ったが、現実に喞瓦気譴燭里7nmだった。
7nmデバイスはどうなるのか?「材料の問はあるがfinFETは7nmまで長できそうだ」とLam ResearchのフェローであるReza Arghavaniは述べている。「(チャンネル材料としての)III-V半導をWする桔,鯏社は瑤辰討い襪、III-V半導は問があるが、]\術の点で到達できないlではない。チャンネル材料として、SiGeやGeも実現可性がある」とする。
7nm finFETを実現するために、半導業cはたくさんの新\術を要とするだろう。らかに問はHい−設コストや経済性、マルチパターニングなどだ。いろいろなパネルディスカッションや講演で、チップメーカーはまだそれほどらかではない問についても議bした−コンタクトB^や材料、消J電、配線、バラつき、歩里泙蠅覆匹澄まだ発表はないが、プロセスU御やフォトマスクの複雑さ、]業cで進む合問などもある。
IEDMのkつのセッションやパネルディスカッションに出席しても、7nm以Tの問を完に把曚垢襪海箸呂任ない。実、パズルのピースをRうためだけに様々なイベントに出なければならない。
メガトレンド
IEDMの初日では、IBMとIntel、TSMCがそれぞれ16/14nm finFETの最新の詳細を発表した。半導業cが16/14nmから10nm finFETへスケーリングする桔,砲弔い董△い蹐い蹐紛\術が挙げられている。例えば、Intelは14nmノードで、エアギャップ配線を使った。
16/14nmプロセスが成功すれば記念すべき業績となる。しかし、10nm以Tへ行くためには新たな問、にコストと集積度、が出てくる。「それは経済的な問」、とnVidiaのファウンドリおよび\術管理担当のVPであるJohn Chenは、IEDMでのパネルディスカッションにおいて述べている。
実に、半導業cがさらに微細化へ進むにつれ、チップを設・]できる企業はノードごとにっていくだろう。言うまでもないが、ファブ、プロセスの研|開発、設のコストはノードごとに\加している。「残念ながら、~単になることはない。マスク数は\え、複雑度は\す。問はjきくなる」、とIntelのプロセスアーキテクチャと集積化担当のシニアフェロー兼ディレクタのMark Bohrは同じパネルディスカッションで述べている。
実、チップメーカーはノードごとに約29%ずつトランジスタ当たりのコストを下げることによって、ムーアの法Г魄欸eすることに奮hしてきた。しかし、この法Г魄欸eするためには、チップメーカーは同じチップ屬砲發辰非Hくのトランジスタと機Δ魑佑畊まなければならない。「マスク数を\やすにつれ、ウェーハコストは屬るという実と噞cは確かに戦っている。しかし、世代ごとにかつてないほど優れた(トランジスタ)集積度を実現している。これが主な`Yだ。トランジスタ当たりのコストをもう下げられないのなら、次世代\術に投@する価値はないだろう」とBohrは言う。
チップのスケーリングで最jの壁はリソグラフィである。チップメーカーは、EUV(extreme ultraviolet)リソグラフィを{求してコストと複雑さをらそうとしている。言うまでもないが、EUVはれており、まだ攵に使える段階ではない。「リソグラフィメーカーはこれほどまで193nmS長の\術を使えることに驚いている。最終的にはその代}段が要となる。EUVは次のステップにある。個人的には今すぐに使いたかったが、まだ使えない。]として、ウェーハのスループットの要求とのn働性Δk致するまでにはまだ遠いOのりにある」とBohrは述べている。
リソグラフィに加え、他の\術もムーアの法Г魄欸eしなければならないというプレッシャーにさらされている。例えば、マルチパターニングはデポジションとエッチングに向けた新しい要求がある。CMPやエピタキシャル成長、イオン]ち込みなどのへの要求も新しい。「これらてに、最高の@度が要求される。()ビジネスのあらゆる霾が問に直Cしているため、イノベーションと投@は要となる」とApplied Materialsのシリコンシステムズグループも峙VP兼GMのRandhir Thakurは言う。
7nm以Tの問
k機IEDMの別なパネルディスカッションでは、7nm以Tに点が当たっていた。「10nmは14nmと瑤燭茲Δ覆發里世蹐Αしかし、7nmではもうkつの変曲点が来るだろう」。こう述べるのはQualcommエンジニアリング靆腓VPであるKarim Arabi。
実、finFETトランジスタは、7nmまでは行くだろう。しかし、7nmでは早ければ半導業cは、‘暗戮屬欧襪燭畤靴靴ぅ船礇鵐優觝猯舛妨かう要がある。言い換えれば、シリコンベースのチャンネル材料はもはや行き詰ってきている。III-V半導材料は7nmへの△できていない。このため業cはSiGeあるいはGeをpチャンネルFETに、シリコンをnチャンネルFETに使う妓に向かっている。「SiGeとIII-V半導は考慮すべきtに屬辰討い襪、SiGeの気可性はある」とArabiは述べる。
iにも述べたように、半導業cはパターニングにはEUVを望んでいる。しかし、もしEUVがれけると、7nmで考えていなかったtを求めるかもしれない。すなわち8vもパターニングするオクタプルパターニングの193nm]浸リソ\術である。「オクタプルパターニングは良くないと思う。できればEUVを使いたい」、とIBMの研|^であるMichael Guillornは、パネルディスカッションのQ&Aセッションで述べている。
EUVの最初の要求のkつは、BEOL(back-end-of-the-line:配線工)での使である。ここでは、チップ設の細い配線の加工に使う。半導業cはその時代に合理的な理yで新しいブレークスルーを求める。チップメーカーは20nmで、j変なRCの問に直Cしていた。この業cでは誰しもがEUVを求め、BEOLのパターニング\術を~単にしたいだろう」とGuillornは述べる。
チップメーカーもBEOLでの新材料として新たなブレークスルーを要としている。例えば、Co(コバルト)にもR`している。これ以外にもRC配線を和らげるための材料が軒並みtとして挙がっている。
加えて、7nm以Tも見据えている。「今はfinFETがある。今日のフィンの幅は7~8nm。これを5nmまでシュリンクできるだろう。しかし、これ以屬魯轡絅螢鵐しけられない。‘暗戮低下するからだ」、とIMECのロジックプロセス\術担当VPでロジックデバイスR&DプログラムディレクタでもあるAaron Theanは述べる。
このため5nmでは、次世代のトランジスタへ々圓垢襪海箸砲覆蹐Α崕劼靴燭茲Δ法△海例tにはいろいろある。ゲートを4妓から囲むFET(ゲートオールアラウンドFET)や、ナノワイヤーFET、量子井戸finFET、TFETがある。「新しいソリューションが要だ。ゲートオールアラウンドFETのような複雑な構]が求められよう。しかし、今の所どれが本命なのかまだはっきりしていない」とTheanは言う。
言うまでもないが、不確定要素はHい。しかし5nmでもムーアの法Гくと言われている。「5nmでは、トランジスタ当たりのコストが依として少する妓だろうと予Rされている。もしこれらのイノベーションがきなかったら、5nm\術はおそらくき換えられてしまうだろう」とGlobalFoundriesの\術スタッフのディスティングイッシュメンバーであるWitek Maszaraは述べている。
実、他のI肢は、貭妓に行くことである。例えば、IMECはe型ナノワイヤー構]を開発している。加えて、2.5D/3Dスタックダイもある。しかし、この\術は未だに主流になっていない。そして、CEA-LETIはモノリシックの3Dを進めている。この\術では、先端トランジスタを互い違いにe妓に_ねていく。
時が経つにつれ、半導噞は二つのOを採るだろう。チップメーカーは来のチップアーキテクチャを{求するだけではなく、3Dのような\術もpけ入れるだろう。問はしくIすることだ。5nm以Tでは、さらに未数が\える。シリコンを3nm以Tももっと見えなくなる。カーボンナノチューブ、グラフェンなどzな2D\術がC白そうだが、これらの材料もまたMしい問を含んでいる。
すでに述べたように、スケーリングは見通せるZ未来もくだろう。しかし、ムーアの法Г魄欸eすることはコストがかかり、Mしい\術になるだろう。