Semiconductor Portal

» セミコンポータルによる分析 » \術分析 » \術分析(プロセス)

パナソニック、バーチャルメトロロジーでゲート┣祝豸のバラつきを予R

ウェーハごとにばらつくゲート┣祝豸のR定データを蓄積し、その後のウェーハごとの変動を予Rし管理に擇す、というパナソニックの攵\術b文がAEC/APC Symposium-Asia 2009のベストペーパー賞をp賞した。このシンポジウムは東B・神田kツ橋記念講堂で行われ、パナソニックが半導のを管理できる例を発表した。

微細化とともにプロセスマージンが狭くなってくるにつれ、のバラつき、経時変化をきっちり抑え、歩里泙蠅鯆祺爾気擦覆い海箸不可Lになってくる。パナソニックがAEC/APCシンポでベストペーパーにばれた発表は、バーチャルメトロロジー(VM)と}ぶシミュレーション\術。R定ウェーハサンプル数を\やせば\やすほど@度は屬るがコストがかさむ。このため予Rを含めてR定する桔 △垢覆錣船弌璽船礇襯瓮肇蹈蹈検爾鮠Wしてウェーハバラつきを予Rしようというlだ。


Physical model


パナソニックは、ゲート┣祝譴魴狙するRTP(]加Xプロセス)のを使って、ゲート┣祝譴離ΕА璽呂瓦箸離如璽燭鮑里蝓△気蕕吠册阿鴦H変量解析桔,駘モデルを立ててシミュレーションする桔,砲弔い督瓦戮拭

┣]度のVMモデルは、Oラジカルを形成させて┣修垢桔,任△蝓Oラジカル濃度はチャンバ内圧Pとウェーハa度(ランプ出Iに換Q)に比例することをWする。H変量解析のモデル式では、それぞれPとIを変数とみなして係数をかける究式、駘モデルの式は、ランプ出からX失関数を差し引いた究式を立てた。いずれのモデルでもランプの出はウェーハ裏Cから15個のパイロメーターでa度をRるため、15個分の出を加えておく。

二つのモデルが実R値と合っているか、実R値との相関係数はどの度かを調べたT果、統モデルでは相関係数は0.73、駘モデルでは0.89とらかな~T差が見られた。また不良と判定するアラームが誤作動する割合は統モデルでは11%あったが、駘モデルは0%だった。これらのT果からパナソニックは、駘モデルでさらなる予Rも求めることをめた。


VM in mass production


ウェーハ数2万まで実Rし、そのデータをもとにそれ以T、ゲート┣祝豸をウェーハごとに予Rを立て、さらにその実R値とも比較した。そのT果、相関係数は0.92とさらに高まり、このモデルで予Rすることが可Δ任△襪海箸鮨している。


=


さらに実際の電気的テストから見積もったEOT(┣祝豐Q厚さ)と、今vのVMモデルによって予Rした厚さとの相関も求めた。そのT果、EOTとの相関係数はダミーウェーハ(NPW)での実R値が0.57しかなかったが、VM法だと0.66とむしろ高いことがわかった。

(2009/11/16)
ごT見・ご感[
麼嫋岌幃学庁医 畠何眉頭壓濆杰間渦| 忽恢娼瞳涙鷹廨曝av壓濂シ | 匯雫谷頭音触頭窒継鉱心| 際際弼忝栽利消消消消消| 忽恢冉巖天胆晩昆壓濆杰寛賛| h篇撞窒継鉱心| 晩昆娼瞳涙鷹嶄猟忖鳥匯曝屈曝| 艶彼厘議俟~亜~狹~| www99re| 恷除嶄猟忖鳥涙宅互賠窒継篇撞| 槻揖窒継videos天胆| 撹定溺繁谷頭窒継殴慧篇撞m| 冉巖av撹繁匯曝屈曝眉曝壓濆杰| 娼瞳晩云匯曝屈曝眉曝壓濆杰| 忽恢裏田娼瞳匯曝| 冉巖徭忽恢田滔田| 磔碕垪篇撞壓| 冉巖眉雫篇撞壓| 背析遊寄媾背洗剰涙評准| 忽恢天胆晩昆娼瞳a壓濆杰| 91娼瞳忽恢窒継秘笥| 涙鷹a▲娼瞳匯曝屈曝眉曝| 励埖供鎗埖唯唯| 際際弼翆翆供秡埖| 怜匚篇撞消消消消匯曝| 冉巖弼夕忝栽壓| 忽恢篇撞匯屈眉曝| 嶄猟忖鳥互賠窒継音触篇撞| 天胆我我我BBB利嫋| 強只繁麗涌強只繁麗窒継鉱心| 弼姙槻怜匚窮唹壓濆杰| 忽恢娼瞳窒継篇撞利嫋| 匯曝屈曝眉曝涙鷹篇撞窒継牽旋 | 天胆決髄→bbbb総窃| 忽恢h扉壓瀛啼誼盞儿杰| 2020天胆自瞳hd18| 暫溺free來zozo住| 消消娼瞳忽恢冉巖av醍狭弼圀| 天胆嶄猟忖鳥壓濘| 宗附暴縮的阻厘挫叱肝亜| 廉廉繁悶44rt寄季互賠晩昆|