IoT箕洛を斧盔えた警翁驢墑鹼灤炳禱窖魯叫したセミコンジャパン2016
IoT箕洛は、眉瑣からクラウドでのデ〖タ豺老、材渾步まで、システム回羹が動(dòng)まる。睛脫步が幌まっている供眷の徒松瘦鏈∈preventive maintenance∷のためのIoT眉瑣は、供眷ごとに慌屯や妥滇認(rèn)跋が佰なる警翁驢墑鹼鷗倡となりそうだ。その箕洛に灤炳したアイデアがセミコンジャパンに魯叫した。
哭1 ミニマルファブは票じサイズの劉彌をずらりと事べる 叫諾¨ミニマルファブ
緘玫りで幌めながらもようやく叫庚への豺を斧せ幌めたミニマルファブのシステム(哭1)、悸劉とパッケ〖ジング嬸嚏の腮嘿ピッチに灤炳するSCREENのレ〖ザ〖木儡閃茶劉彌、染瞥攣チップをテストする箕粗を沒教する泣塑National InstrumentsのPXIソリュ〖ション、IoT羹けのミクストシグナル染瞥攣やIoTモジュ〖ルをテストするアドバンテストのテスタ凡などを疽拆する。
ミニマルファブは、0.5インチのウェ〖ハ♂チップとして瀾隴するシステムで、緩度禱窖另圭甫墊疥の付凰蝦會(huì)が捏捌してきたプロジェクトである。付會(huì)によると、鉗粗100改~1它改の警翁驢墑鹼で、1~100ドル/cm2の擦呈のチップをタ〖ゲットとしている。IoT∈Internet of Things∷のような炳脫は、センサやマイコン、トランシ〖バを答塑とする染瞥攣を蝗うが、いずれも腮嘿步をそれほど澀妥としないうえに警翁驢墑鹼の炳脫になりうる。
ミニマルファブに蝗う瀾隴劉彌はリソグラフィからデポジション、エッチング、麗爵、觸羚などの漣供鎳から、ダイボンディングやワイヤボンディングなどの稿供鎳などを辦奶りそろえた(哭1)。腮嘿步を澀妥としないとはいえ、0.7~0.5µmの潰恕だとやはりマイコンやトランシ〖バでさえ絡(luò)きすぎる。ミニマルファブとしてはもう警し腮嘿步したい。28nm~130nmのパタ〖ンはSoCを肋紛するうえで風(fēng)かせない。辦數(shù)でミニマルファブの劉彌は絡(luò)きさが1440mm∈光さ∷∵294mm(升)と辦忍の瀾隴劉彌よりはかなり井さいため、ここに腮嘿裁供できるリソグラフィ劉彌として井房排灰ビ〖ム劉彌が判眷する。警翁驢墑鹼を潑墓とするミニマルファブではマスクは稍妥だ。警翁驢墑鹼の排灰ビ〖ムによる木儡閃茶禱窖は100nm笆布の腮嘿裁供には羹く。稿供鎳においても、付會(huì)はFO-WLP∈ファンアウト-ウェ〖ハレベルパッケ〖ジング∷脫の劉彌倡券なども紛茶している。
SCREENは、FO-WLP羹けにバンプやピラ〖のような排端妨喇に蝗うレ〖ザ〖木儡閃茶劉彌DW-3000をパネル鷗績(jī)した。SCREENは傅」、プリント答饒脫やTFT妨喇脫のレ〖ザ〖木閃劉彌を叫操していた。これを染瞥攣稿供鎳脫に猖隴し、豺嚨刨としてL/S♂2µm、悸蝸1.5µmと染瞥攣稿供鎳の排端パタ〖ンの侯瀾に蝗えるようにした。TSVにも灤炳できるという。閃茶脫のレ〖ザ〖ビ〖ムは、嘿い驢眶のMEMS瓤紀(jì)饒を懼布に慷ることで8000チャンネルもの各ビ〖ムのオンオフを票箕にできるようにした。TSMCのFO-WLP禱窖であるINFOやSamsungの500mmパネルベ〖スのチップにも灤炳するとしている。
哭2 National InstrumentsのPXIベ〖スの盧年達(dá)
驢墑鹼警翁のICやモジュ〖ルをテストするのに羹いているのがNational InstrumentsのPXIベ〖スのテストシステム。泣塑NIはDUT∈テストされるデバイス∷に慨規(guī)を涂えるSMU∈Source Measurement Unit∷を蝗い、LEDに200µsのパルスを掐蝸し、その僑妨をチェックしたり、染瞥攣デバイスの掐叫蝸僑妨を囪盧したりするデモを斧せた(哭2)。裁えて、パルス僑妨のオ〖バ〖シュ〖トやアンダ〖シュ〖ト、リンギングなどの僑妨を、茶燙懼で攙烯年眶を恃えながら澄千できる。これを材墻にするのがF(xiàn)PGA。FPGAでアナログの年眶を恃えられるような禱窖を潑釣步しており、NIの動(dòng)みでもある。アナログ染瞥攣やパワ〖デバイスなどのテスト刪擦、さらにそのまま翁緩できるSTS∈Semiconductor Test System∷もそろえており、活侯から翁緩までのテスタとして蝗えることも動(dòng)みである。
アドバンテストといえばメモリテスタメ〖カ〖、といったイメ〖ジを失しょくするような警翁驢墑鹼灤炳のテスタやテストハンドラの糠瀾墑を票家は叫してきた。テストハンドラ≈M4871/4872∽(哭3)は、ビジョンアラインメント怠墻を何脫し、辦つのチェンジキットで屯」なサイズのデバイスに灤炳する。この糠怠墻は、蕊盧年デバイスの墑鹼蛤垂のセッティング箕粗を45%笆懼沒教することでテスト欄緩拉を羹懼させる。また、M4871/4872は、聯(lián)侍稍紊となったICをロ〖ダストッカに極瓢弄に流り、浩盧年するのにわずか1尸で貉む。驕丸だと稍紊墑を侍に尸け、客緘で笨んでいたため30尸鎳刨かかっていた。
哭3 警翁驢墑鹼羹けアドバンテストのテストハンドラM4871/4872
アドバンテストはさまざまなIoTデバイスやモジュ〖ルを盧年するためのテストプラットフォ〖ムT2000 AiRを券山している。驕丸のT2000テストプラットフォ〖ムよりも井房で武笛劉彌を驕丸の閉武から鄂武に恃え、呵絡(luò)512ピンまでの警翁驢墑鹼のSiP∈システムインパッケ〖ジ∷やモジュ〖ルのRF潑拉∈BluetoothやZigBeeなど∷を盧年できるようにしている。DUTを很せる紛盧モジュ〖ルは驕丸50cm逞鎳刨あった絡(luò)きさの答饒ボ〖ドをわずか緘蘑サイズでしかも4チャンネル尸に慌懼げた。裁えて、票家のテストハンドラとの儡魯拉にも芹胃しており、臼スペ〖ス步を哭った。
哭4 ミクストシグナルICやモジュ〖ル羹けのテスタWave Scale MXボ〖ド
IoTには痰俐攙烯は風(fēng)かせない。RFIC羹けのテストモジュ〖ル≈Wave Scale RF∽とミクストシグナルICやモジュ〖ル羹けの≈Wave Scale MX∽もアドバンテストは券山した(哭4)。潑に、≈Wave Scale RF∽は、痰俐奶慨の肩な憚呈であるLTE、LTE-A、LTE-A Pro、LTE-M、Wi-Fi、GPS、ZigBee、BluetoothなどのICやモジュ〖ルのRF潑拉を盧年するためのモジュ〖ル。盧年モジュ〖ル答饒1綏碰たり4つのサブシステムが迫惟して慨規(guī)を磅裁し盧年するため、4つの憚呈を迫惟に票箕に盧年できる。しかも稱サブシステムは流慨と減慨も盧年でき、しかもRF件僑眶掠拌は200MHzと350MHzと弓掠拌でキャリアアグリゲ〖ションにも灤炳する。
