アドバンテスト、プラットフォ〖ム里維を夸渴、ハンドラやモジュ〖ルに潑墓
アドバンテストは、テストヘッドを近く嬸尸を鼎奶步したテストプラットフォ〖ムT2000を答塑とするビジネス里維を渴めており、このセミコンジャパンでもT2000に儡魯するためのテストハンドラやモジュ〖ルを魯」券山した。ハンドラやモジュ〖ルで潑墓を積たせている。
哭1 アドバンテストのハンドラM4871の看隆嬸にあたるボ〖ド
パッケ〖ジ甚賄されたSoCをテスタ〖に流る舔充を蔡たすハンドラM4871は、0.3mmと腮嘿なピッチのSoCを胺えるだけではなく、光ˇ你補刨でのテスト箕粗を絡升に沒教している。-15☆から+85☆での補刨肋年の磊り侖え箕粗は、これまでは40×60尸だったが、海攙は30擅ですむ。また、これまで呵絡2改あるいは4改しか票箕盧年できなかったが、海攙は16改あるいは32改のSoCを票箕盧年できる。
このハンドラが叫てきた秦肥には、SoCのパッケ〖ジがモバイル眉瑣羹けに恃わってきたことによる。スマ〖トフォンやタブレットなどのモバイル眉瑣では、眉灰ピッチが0.3mmと豆くなるうえに、PoP∈パッケ〖ジオンパッケ〖ジ∷などのように腳なったパッケ〖ジのデバイスも蝗われている。こういった糠しい染瞥攣デバイスをピックアンドプレイスでテスタ〖の眉灰の疤彌に賴澄に很せることが豈しくなってきた。
M4871では、これまでの怠常弄なアラインメントではなく、茶嚨千急によるアラインメントを、パッケ〖ジの懼と布から企つのカメラで乖っている。1デバイスのテストではおよそ9擅かかるが、很せる漣の溝えの疤彌でアラインメントを貉ませており、デバイスのテスト箕粗がそれ笆懼にかかるため、ト〖タルのテスト箕粗は恃わらない。
また、デバイスのテストは驕丸、チャンバ數及を何ってきたため、補刨茨董を奧年に瘦つのに箕粗がかかっていた。しかも丹攣を拆した補刨盧年なので、デバイスの奪くでさえ籃刨の慨完拉に啼瑪があったとしている。海攙は、垮とお膨という2閉に炕す數及なので補刨が奧年するまでの箕粗は沒い。テストの檬艱りした稿の箕粗も沒い懼に檬艱りの箕粗そのものも沒くなった。驕丸は鏈ての檬艱りに130尸かかっていたが、海攙は30擅+10尸鎳刨(檬艱りだけの箕粗)で貉むという。
テスト面にロジックICが券錢してデバイス補刨が肋年猛よりも光くなるとしても、センサで錢をフィ〖ドバック擴告するため、撅に辦年の補刨でテストできるとしている。この補刨擴告はサ〖バ脫のCPUのテストにおいても悸烙を姥んでいたため、CPUだけではなくAPU∈アプリケ〖ションプロセッサ∷にも蝗えるとして、すでにある絡緘APUメ〖カ〖にこのハンドラを羌掐したという。
アドバンテストは、パワ〖マネ〖ジメントICやパワ〖アンプ、A-D/D-Aコンバ〖タなどを1チップに礁姥された光礁姥なIC脫のテストモジュ〖ル≈GVI64∽も券山した。これは賈很脫のECUやパワ〖マネ〖ジメントIC∈PMIC∷をテストするのに努したテストモジュ〖ル。これまでのテストプラットフォ〖ムであるT2000に儡魯して蝗う。呵絡64チャンネルの盧年が材墻。
哭2 アドバンテストのパワ〖廢染瞥攣テストモジュ〖ルGVI64
パワ〖を脫龐としているため、排富排暗は-64Vから+85Vまでの活賦ができる。また、年呈排萎にもよるが、呵絡∞240mA萎すテストの眷圭は事誤に8チャンネル票箕盧年できる。さらに絡排萎が澀妥なデバイスのテストをする眷圭には、侍のモジュ〖ルも脫罷している。
これだけの排暗認跋があれば、賈很脫のほとんどのPMICをテストできる。エンジン擴告廢、セ〖フティ廢、額瓢廢、ABSなどほとんどのECU柒にあるPMICやパワ〖トランジスタなどをカバ〖する。トランジスタの卵暗盧年もできる。
海攙票家は、イメ〖ジセンサ脫のテストユニットISS IPE2もリリ〖スした。これは、CMOSイメ〖ジセンサの紊容を冉年するためのテストユニットであり、DUT∈device under test∷としてのイメ〖ジセンサが炳批する各の瓤炳を斧て、茶嚨借妄する。驕丸怠と孺べて、染尸鎳刨の54%の箕粗でテストできるとしている。これは、ハイエンドのCPU(クワッドコア)と迫極の光廬バスを烹很したことで、茶嚨借妄を光廬步しテスト箕粗を沒教させたもの。瀾墑嘆のIPEはImage Processing Engineの維である。このテストユニットもT2000と鼎に蝗脫する。
