澎記S&S、アナログICのテスト箕粗を1/143に沒教、NIのツ〖ルが耙蝸を券帶
アナログやミクストシグナルICなどの活侯刪擦は緘粗がかかり、肋紛するたびにテストプログラムを侯らなければならない。さまざまなテスト掘鳳侯喇をはじめ馮菇な箕粗がかかる。警しでも極瓢步してプログラムを浩網脫できれば、肌のデバイス刪擦の箕粗を沒教できる。澎記は、National Instrumentsのハ〖ドとソフトを介めて蝗ってテスト箕粗を1/143笆布に沒教したという禍毋を券山した。
哭1 テストに蝗ったNational Instrumentsのツ〖ル 盧年達寶の濫い答饒がDUT
澎記セミコンダクタ〖□ストレ〖ジ∈S&S∷家が海攙の刪擦で脫いたICは、裁廬刨センサ〖からの慨規にフィルタリング借妄を卉し籠升し稿檬のASICに流るというアナログチップ。HDD∈ハ〖ドドライブ∷の瓢侯面に慷瓢を浮叫する。ICのテストプログラムは、攙烯肋紛が姜わりプロセスに掐ると票箕に倡券し幌める。ICの活侯が姜わり、ファ〖ストシリコンが叫丸懼がるまでに介袋刪擦するためのプログラムを倡券する。刪擦馮蔡をプログラムにフィ〖ドバックしデバッグして翁緩のテスト倡券プログラムに寵かす。
刪擦では、ICに裁える排暗や排萎、扦罷のサイン僑妨などの猛を恃え、ICからその僑妨や排暗、排萎の猛を盧年する。ソ〖スメジャ〖ユニット∈SMU∷とAWG∈扦罷の僑妨券欄達∷、デジタルマルチメ〖タ、デジタイザなどの盧年達を蝗う。さらに盧年掘鳳はさまざまあるため、マトリクススイッチを脫いて、極瓢弄に掘鳳を磊り侖えられるようにした。こういった盧年には漓脫怠を蝗わずに、シャ〖シ〖にボ〖ドを汗し哈むだけで灤炳できるNational Instruments∈NI∷家のPXI∈哭2∷を網脫した。稱盧年達はボ〖ド1綏で叫丸ているため、ボ〖ドを納裁すれば、これらの排萎ˇ排暗笆嘲のパラメ〖タも盧年できる。
哭2 National Instrumentsの橙磨材墻な盧年達PXI 慨規券欄達やSMUなどのボ〖ドを汗し哈むだけで橙磨できる
極瓢刪擦システムを菇蜜したことで、海稿のテストプログラム倡券を沒教できると票箕に、テスト墑劑も肌媽に猖紊されることで光くなっていく。テストプログラムは、NIの倡券ソフトウエアであるLabVIEWで侯り、排富排暗や眉灰排暗の磅裁、レジスタ肋年や盧年攙烯哭恃構などを乖う。また、浩菇喇しやすくすることを雇胃しながらテストシ〖ケンスを寥んでいる。ここでは瓷妄ソフトウエアであるNIのTestStandを蝗っている。
澎記は、菇蜜した極瓢テストシステムを肌坤洛瀾墑にも努脫できるようにするため、排富排暗認跋や補刨認跋を弓げて盧年するシ〖ケンスを侯っている。さまざまな盧年掘鳳を辦街で恃えられるように、マトリクススイッチを網脫した。NIはマトリクススイッチも捏丁している。ここでは、マトリクスの乖にICの眉灰を儡魯し、誤に盧年達のチャンネルを儡魯した。これによってICのさまざまな眉灰に排暗や排萎を裁えるSMUやその馮蔡を盧年するデジタルマルチメ〖タを、詞帽に磊り侖えられる。マトリクス覺のスイッチはマルチプレクサを蝗って極瓢弄に磊り侖える。
この馮蔡、鏈攣の盧年箕粗は驕丸の1/143の箕粗で貉んだとしている。鏈攣の盧年箕粗は、サンプル眶15改、刪擦灌謄70、補刨掘鳳3爬を、サンプル掐れ侖え箕粗とつなぎ侖え箕粗、サンプル1改の盧年箕粗を雇胃して紛換した。サンプル1改を極瓢弄に盧年するとしてもすべての灌謄や掘鳳をテストすると525箕粗かかり、PXIを蝗って窗鏈極瓢步すると3.65箕粗かかった。
澎記のエンジニアは、悸はNIのハ〖ドウエアとソフトウエアを蝗うのはこれが介めてだった。海攙のテスト刪擦箕粗沒教禱窖は2013鉗になってから倡券したという。これまでNIの倡券ソフトLabVIEWや、ハ〖ドウエア盧年シャ〖シ〖PXIなどを染瞥攣メ〖カ〖が蝗ったという禍毋はほとんど夢られていなかった。
