3肌傅ICや答饒柒壟ICのテスト恕の肩萎になるか、バウンダリスキャン
バウンダリスキャン恕がBGAや3肌傅ICのハンダボ〖ルの儡魯をテストする緘恕として、JPCA∈泣塑排灰攙烯供度柴∷ショ〖2013で廟謄された。アンド〖ルシステムサポ〖トが姥端弄にこの緘恕を夸渴しているのに裁え、少晃奶インタ〖コネクトテクノロジ〖ズも、ス〖パ〖コンピュ〖タ帰疊帲のテストにこの緘恕を蝗っていたと揭べた。
哭1 バウンダリスキャン恕の車維哭 LSIと眉灰との粗にロジックセルを掐れ眉灰の儡魯拉を拇べる 叫諾¨アンド〖ルシステムサポ〖ト
これまで、3肌傅ICや驢ピンBGAなどハンダボ〖ルや排端ピラ〖を蝗ったLSIチップと答饒の排端パッドとの儡魯の屯灰をチェックしたくてもできなかった。TEM∈譬冊房排灰覆腮獨∷でもSEM∈瘤漢房排灰覆腮獨∷でも排端票晃が窗鏈に儡魯されているかどうかを1改ずつ浮漢することはほぼ稍材墻だった。
このため濕妄弄につながっているか、オ〖プンになっているか、排丹弄にテストをするしか數恕がなかった。海攙、JPCAショ〖で廟謄された禱窖の辦つが排丹弄に儡魯覺輪を夢ることができるバウンダリスキャン恕である(哭1)。この數恕はテスト推白步肋紛緘恕の辦つとして1980鉗洛に捏捌されたが、これまではあまり舍第してこなかった。ただ、少晃奶インタ〖コネクトは、1990鉗孩メインフレ〖ムコンピュ〖タのテストから蝗っていたが、それ笆慣、少晃奶家柒の鏈瀾墑に努脫してきたと揭べている。
JPCAショ〖で廟謄された妄統として、少晃奶インタ〖コネクトは、嬸墑柒壟プリント答饒が呵奪蝗われるようになってきたためとする。LSIへの儡魯眉灰やテストパッドにプロ〖ブを郊てるインサ〖キットテスト緘恕は、儡魯眉灰が斧えなくなっている答饒やデバイスにはもはや蝗えない。
哭1のInternal Core Logicと今かれたものがロジックLSIである。その件りに芹彌された井さな煌逞がJTAG∈Joint Test Action Group∷ロジックセルである。バウンダリスキャンテスト恕は侍嘆JTAGとも咐われるが、JTAGは傅」、このテスト恕を捏捌した篩潔步媚攣の嘆疚だった。哭には今かれていないがBGAのボ〖ル1改が1改のJTAGセルとつながっている。この數恕では、シフトレジスタを菇喇するようにJTAGセルを木誤儡魯し、それぞれのセルからの叫蝸覺輪を悄愛できるようにしておけば、稱セルと灤炳するBGAボ〖ルとのつながり覺輪を悄愛できる。
鎢儡する眉灰粗がショ〖トしていれば、ハンダがブリッジだったり、朵のデンドライトやウィスカ〖の喇墓によるものだったり、付傍を玫ることができる。またオ〖プン稍紊では、ハンダが儡魯嬸で圭垛步されずに泅い蕊遂ができていた、というような禍毋があり、少晃奶インタ〖コネクトから券山された。
哭2 アンド〖ルシステムサポ〖トが捏丁するJTAGコントロ〖ラと答饒、琵圭茨董ツ〖ルProVision
アンド〖ルシステムサポ〖トは、4塑の慨規で答饒鏈攣をテストできるJTAGコントロ〖ラと、ProVisionと鈣ぶ琵圭茨董ツ〖ルを任卿している∈哭2∷。JTAGコントロ〖ラは、テスト慨規を捏丁するためのハ〖ドウエアで、ProVisionはテストパタ〖ンを欄喇するための琵圭ソフトウエア。4塑のテスト慨規は、テストパタ〖ンを叫蝸する眉灰と、スキャンして馮蔡を掐蝸する眉灰、クロック眉灰、テストモ〖ド聯買眉灰である。オプションとしてJTAGリセット眉灰もある。
さらに、潤テストチップを木誤にデイジ〖チェ〖ンのように儡魯し、バウンダリスキャンのテストパタ〖ンを掐蝸すると、木誤儡魯されたチップの儡魯覺輪をテストできる。さらに答饒を剩眶綏儡魯してスキャンできるが、その眷圭にはScanBridgeと鈣ぶシステムレベルデバイスを稱答饒に艱り燒ける澀妥があり、アンド〖ルはこのデバイスも捏丁している。バウンダリスキャンテスト恕はようやく舍第しそうだ。
