アナログˇミクストシグナル廢テスタ〖STSが攻拇、とNI胳る
2鉗漣、糠たに染瞥攣テスタ〖輝眷に徊掐したNational Instruments家。驕丸の染瞥攣テスタ〖と票じ妨を積つテスタ〖≈STS∈Semiconductor Test System∷∽瀾墑は海、締喇墓しているという。驢くのテクノロジ〖トレンドに辮った甫墊倡券尸填に圭っているからだと票家極瓢テストマ〖ケティング嬸嚏のシニアマネジャ〖Luke Schreier會(哭1)は胳る。
哭1 National Instruments家極瓢テストマ〖ケティング嬸嚏のシニアマネジャ〖Luke Schreier會
NIが捏丁するSTSは、テストハンドラに烹很されるアナログやRF∈光件僑∷簇犯のテスタ〖。染瞥攣テスタ〖としての肩萎であるメモリやデジタル簇犯のテスタ〖は、アドバンテストなど頂圭メ〖カ〖が驢いため、緘齒けるつもりはないという。屯」な剩花なアナログICやRF、センサ、染瞥攣レ〖ザ〖、各センサなどのテストは、これからのIoTやモバイル、ウェアラブルなどのデバイスに蝗う染瞥攣の墑劑をチェックする。
NIは料度碰箕からソフトウエアベ〖スの盧年達メ〖カ〖で、碰介は盧年達で評たデ〖タを、GPIBバスを脫いてコンピュ〖タに流り、コンピュ〖タでデ〖タを借妄していた。海ではPCIeバスを積つPXIシャ〖シ(涇攣)にいろいろな盧年達モジュ〖ルボ〖ドやデ〖タ借妄ボ〖ドを汗し哈み、ディスプレイをつなぐだけでよい。ボ〖ドを蛤垂すれば、オシロスコ〖プにもスペクトルアナライザにも慨規券欄達にもRF盧年達にもなる。テストプログラムやテスト攙烯を肋紛するにはLabVIEWというソフトを蝗えば詞帽にできる。
票家の染瞥攣テスタ〖はPXIシャ〖シをSTSに烹很したもので、アナログICやセンサなどの翁緩にも灤炳できる。つまり、倡券箕に盧年したデ〖タを艱評するPXIシャ〖シを翁緩脫のSTSにそのまま烹很でき、LabVIEWもそのまま蝗えるので、倡券箕と翁緩箕のテスト馮蔡を孺べて陵簇をとる澀妥がない。テスト箕粗の沒教につながる。潑に、極瓢賈やIoTなどは倡券袋粗を沒教することが滇められているため、杠狄はどう沒教したらよいかという陵錳を積ち齒けてくることもある、とNIDaysに丸泣したSchreier會は揭べている。
アジア呂士臀孟拌の任卿駱眶は咐えないが、卿れ乖きは菠勢と票屯、攻拇だという。メモリに動い躥柜でさえも黎眉ワイヤレスICを緘齒けており、海やどこにでもSTSを任卿できるようになってきたという。杠狄とコラボしながら糠しいテクノロジ〖のタイミングやタイムラインを圭わせていくことが腳妥だとSchreier會は胳っている。
哭2 24チャンネルのSMU NIDaysで券山
その辦毋として、呵奪券山した24チャンネルのSMU∈ソ〖スメジャ〖メントユニット∷は排萎ˇ排暗を丁惦すると鼎に盧年もできる瀾墑だ。この瀾墑は杠狄の妥滇を使きながら、活侯倡券から翁緩まで蝗うために澀妥なチャンネル眶やサイト眶などの妥滇を艱り掐れたもので、スケ〖ルアップはすぐできるというメリットがある。毋えば1駱のSTSの面にSMUボ〖ドを部綏も橙磨することで翁緩羹きの100×1000チャンネルのSMUにスケ〖ルアップできる。この瀾墑はミクストシグナルICやセンサに努しており、Analog Devices家からの刪冉も紊かったという。ここは締喇墓輝眷になっているようだ。
染瞥攣テストでもう辦つ督蹋ある瓢きはシステムレベルのテストだとSchreier會は咐う。毋えばSiP∈System in Package∷パッケ〖ジのように佰なるチップを烹很しているパッケ〖ジのテストをどうするか、という啼瑪である。≈驕丸のベクトルベ〖スのテストやパラメ〖タテストからシステムレベルのプロトコルテストへと恃わるだろう。そうするとPCBテストに擊てきて、怠墻テストが腳妥になってくる∽とSchreier會は揭べ、そのための剃惡やメカニカル嬸墑のパ〖トナ〖と辦斤にソリュ〖ションを滇める澀妥が叫てくる。
票屯に3肌傅ICのテストも啼瑪となっている。潑にマイクロバンプのテストは端めて豈しい。3D-ICでは、ウェ〖ハのテストからシステムレベルのテストになる。ただし、稍紊墑チップは茂しも蝗いたくないので、紊墑チップだけを3Dに腳ねてその儡魯拉をテストする眷圭でもどこまでテストするのか、コストとの敷ね圭いもある。3D-ICの啼瑪は、ファウンドリと的俠しながら渴めているというが、沸貉弄にテストするのにどこでテストを姜わらせるのか、ボ〖ドレベルの怠墻活賦が眶池弄にシステムレベルで賴しいのか、まだまだ賴しいと咐える豺はなさそうだ。
