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O動テストもTCOで低コスト化へ

半導のO動テスト(ATE)にもTCO(Total Cost of Ownership)の考え気鯑各することで設投@を、より低コストで済ませる。National Instrumentsがこのほどまとめた冊子「Automated Test Outlook 2017」(図1)において、テスターの導入にあたって今後のt望を考慮しながらコストを屬欧覆だ鐓Sを披露した。

図1 NIが発行したAutomated Test Outlook 2017 出Z:National Instruments

図1 NIが発行したAutomated Test Outlook 2017 出Z:National Instruments


半導業cでは、半導チップ原価にめる設投@コストがjきいため、]設△亡悗靴討TCOの考え気呂瓦k般的である。テスターへの投@に瓦靴討眛瑛佑暴藉投@だけではなくTCOまで含めたコスト構]を考えるべきとNIは主張する。

TCOは、開発コスト、導入コスト、そして運コストを加えたトータルの総所~コストを表す。峪覆篋経理靆腓脇各コストだけを見がちであるが、TCOでh価しなければ来のテスターではコストをかけ圓になる恐れがある。に今後はIoTやAI、クルマなど少量H|のやシステムの時代になる。やサービス命まで考慮すると、3~5Qの運期間で考える要があると同社日本法人の日本ナショナルインスツルメンツ社のAPACリージョナルマーケティングマネジャーの久保法晴はいう。

さらにテストを戦S的な@にまで価値を高めるシナリオも提案している。最初の投@、次のスケールアップ、3つ`の再Wへとeっていければ、最初の投@コストは科すぎるほどv収できる。その導入例として、盜颪遼ナ\術に咾Harris社の例を紹介した。

Harris社は、来テスターを1ずつ順次導入していた。その後、新の性Δ屬り、出荷量の\加も求められるようになった。しかし、攵摚△叛C積をそれ以峪\やせない屬法▲咼献優控_颪鮗困い燭なかった。このため、NIのTestStandとNI LabVIEW、PXIシャーシからなるテストプラットフォームをHarris社の中でY化するのに成功した。その時、4同時に並`テストすることでスループットを400%屬欧拭しかもテストコストが削され、設C積は83%もった。投@W益率ROIは185%も向屬靴燭箸いΑv収期間はわずか2.8カ月だった。

テストにかかる総コストをk般的な場合についてグラフ化したのが図2である。この図はk般的なテスターについて定性的に述べたもので、定の企業での導入例ではないが、来のテスター(色)のコストはQ数が経つにつれコストはリニアに屬っていくが、新テスター(E色)は初期投@こそ余分にかかるが、2Qも経つとコストは逆転してしまう。つまりv収期間は2Q弱であるが、v収後は削するk気砲覆襪海箸鮨している。


図2 来のテスターを新型テスターに変えても2Q弱で元がとれる 出Z:National Instruments

図2 来のテスターを新型テスターに変えても2Q弱で元がとれる 出Z:National Instruments


図2では、テスト時間のスループットが新テスターでは3倍高いため、Q間の攵盋は3倍になると仮定している。さらに、NIの半導テスター「STS(Semiconductor Test Systems)」は、PXIシャーシなどを組み込み、そのまま量でも使える形Xをしており、テスト冶困筌廛蹇璽个眦觝椶靴討い襦1R定項`や}順などを記したソフトウエアもそのまま使える。

NIは、Harrisのみならず、O動Z向け照_坤瓠璽ーのHella KGaA HueckやPhilips HHS (Home Health Store)でもQ間の{加投@をそれぞれ1.3億、5.5億削したというBを紹介した。

NIのテスターは確かにフレキシブルだが、PXIシャーシーに使っているIntelのマルチコアプロセッサやXilinxのFPGA、バスではPCI Express Gen3、データコンバータにAnalog Devicesなど、高性Δ淵船奪廚鮖箸辰討い襪海箸盍愀犬靴討い襦Intelのマルチコアマイクロプロセッサは並`演Qに咾、テストのさらなる並`化の要求に官できる。また、FPGAはハードウエアv路の再構成ができるため、Rスピードの高]化や高機Σ修官する。

同社のeつソフトウエア開発ツールのLabVIEWというグラフィカルなツールをWしてFPGAの構成を変えられるというメリットもある。ユーザーがテスト機Δ鮗{加する場合にはFPGAでOyに定Iできる。RFv路のRシステムVST(ベクトル信・肇薀鵐掘璽弌砲砲FPGAで構成を変えられるというメリットを擇し、Wi-FiのトップメーカーであるQualcomm社のAtheros靆腓任802.11a/b/g/nのテスト時間が来のテスターに比べ1/10に、802.11a/b/g/n/acのテストでは1/200にそれぞれ]縮したとしている。

(2017/03/23)
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