染瞥攣テスタ〖STSは浩網脫と你コスト步のプラットフォ〖ム
National Instruments家が染瞥攣メ〖カ〖羹けのテスタ〖STS∈Semiconductor Test System∷をリリ〖スしてから2鉗沸った。泣塑輝眷での緘ごたえはどうか。丸泣した、PXIプラットフォ〖ム□モジュラ〖盧年達嬸嚏么碰のTravis White會にSTSの呵糠禍攫について使いた。
Travis White, Section Manager – PXI Platform and Modular Instrumentation
セミコンポ〖タル¨ National Instrumentsが染瞥攣テスタ〖STSをリリ〖スされて笆丸、これまでの炊卡はいかがですか。またSTSシステムで泣塑のカスタマを攙った炊鱗はどうでしょうか々
White會¨ 海のところ坤腸稱孟を攙り、喇根したという馮蔡です。タ〖ゲットはア〖リ〖アダプタ∈介袋に瀾墑を何脫する措度∷でしたが、揉らともヒアリングを魯けています。泣塑に嘎ると、もっと絡きな措度と廈をしており、部がドライビングファクタでどのように逼讀を涂えるものか、テスト里維を恃えることについての雇えも撅に使いています。テスタ〖の何脫箕袋については措度の紛茶サイクルとも晚みますので、いつバリュ〖を欄むかを雇えて、テスタ〖を磊り侖えることになりそうです。
STSを驕丸のATE∈極瓢テスタ〖∷と孺べた眷圭、呵も絡きな般いはコスト菇隴です。あるデバイスをテストする眷圭、パイロット欄緩の網脫に羹くと咐うエンジニアもいるし、欄緩コストが啼瑪と咐う客もいます。つまりいろいろなレベルの抨獲、さまざまなレベルのリタ〖ンやROI∈抨獲跟唯∷を的俠しています。
セミコンポ〖タル¨ 泣塑でSTSを何脫した措度は部家ありますか々
White會¨ 泣塑でSTS何脫唯の賴澄な眶機は積っていません。STSは糠しい車前のテスタ〖ですから、ア〖リ〖アダプタ〗から、そうではない措度まで升弓くもっとディスカッションが澀妥なのかもしれません。海稿2~3鉗するともっと湯澄になるでしょうね。
セミコンポ〖タル¨ 泣塑のユ〖ザ〖にとっては、STSシステムを蝗うモチベ〖ションは部ですか々
White會¨ 鏈ての架刨はコストだと蛔います。タイムツ〖マ〖ケット(倡券袋粗)、拜積銳、劉彌擦呈、どのくらいの袋粗の抨獲垛馳なのか、などを雇えながら抨獲するでしょう。倡券跟唯や、倡券と欄緩での浩網脫を啼瑪にする杠狄もいます。
辦庚に、PXI∈PCIバスを答塑とするNIのテストシステム∷と咐っても、諱が蝗っている絡房盧年達と諱が蝗っているPXIハ〖ドウエアとの粗には絡きなギャップがあると蛔います。票じ盧年達ハ〖ドウエアでも、欄緩面の染瞥攣の潑拉刪擦の粗でも般いがあると蛔います。
賴木咐って、杠狄ごとにコスト菇隴の雇え數が鏈く般います。しかし、倡券と翁緩箕のテストやそれに簇息する禱窖のコンシステンシ〖∈倡券と翁緩の辦米拉∷が啼瑪だと斧ています。絡房コンピュ〖タとよく擊た、絡きなATEでは、潑にアナログやRFでは、コスト菇隴は碰てはまりません。髓攙、いろいろ佰なるディスカッションの面で、叉」が罷蹋するトピックスはシフトしていきます。タイムスケ〖ルを斧ながらどのように幌めるべきか、いろいろな悸沮コンセプトの疽拆、などディスカッションする廈瑪は吭きません。
セミコンポ〖タル¨ アドバンテストやテラダインと頂圭していると炊じますか。
White會¨ 頂圭かどうかは、杠狄が瘋めることですが、いろいろなタイプのテスタ〖粗でキャパシティ(テスト肋灑の墻蝸)を鼎銅することがよくあります。つまり、貸賂のテスタ〖を輸窗するのです。これは、インタラクション∈陵高定蝸房∷モデルと咐えます。もう辦つは、トップクラスのRF盧年達ハ〖ドですが、毋えば海鉗の8奉のNIWeekで券山したVST 2∈ベクトル慨規(guī)トランシ〖バ2∷モデルは攻毋で、貸賂のPXIシャ〖シ〖にRFのテスタ〖を燒け顱すだけで貉むことに、ずいぶん光い簇看を積っていただいています。
これが碰家の答塑里維であり、ゴ〖ルは、彩池甫墊莢にベストなテストツ〖ルを捏丁することです。潑に染瞥攣エンジニアには、光廬で光拉墻、光墑劑のPXI盧年達を、倡券の介袋檬超からもいろいろな佰なるインタラクションモデルで捏丁します。すなわち杠狄が貸賂モデルに納裁したり、STSのように驕丸のテスタ〖と彌き垂えたり、あるいは極尸でテスタ〖を寥み惟てたり、するビジネスで灤炳します。NIWeekではAnalog Devices家がPXIを蝗って揉らの攙りのインフラに極尸でテスタ〖を寥み惟てて、ベストで光拉墻、光欄緩拉のライン羹けアナログテスタ〖とソフトウエアを菇蜜した毋を廈しました。
つまり、箕には頂圭メ〖カ〖になるし、定蝸メ〖カ〖にもなるという條です。碰家のようなプラットフォ〖ム措度は、頂圭簇犯にもなるしコラボレ〖ション簇犯にもなります。
セミコンポ〖タル¨ 泣塑では澎記はNANDフラッシュ、ソニ〖はCMOSセンサに廟蝸し、その戮のメ〖カ〖はパワ〖染瞥攣やアナログ瀾墑にフォ〖カスしています。アナログやパワ〖、RFの染瞥攣倡券にSTS、VSTは羹いていると蛔います。SiCやGaNなどのパワ〖染瞥攣脫テスタ〖としてはどう斧ていますか々
White會¨ NIは撅に喇墓尸填と奧年尸填、筷鑼尸填を斧盔えておりまして、RFやパワ〖染瞥攣、パワ〖マネジメントはこれから喇墓するデバイス尸填です。SiCやGaNなどの糠しい亨瘟のデバイスは、杠狄の惟眷から咐えば、驕丸のソリュ〖ションでは絡恃だろうと蛔います。NIはこういった尸填は輝眷を玲く懲評する紊い怠柴だと雇えています。
パワ〖デバイスでは、潑にパワ〖マネジメントICではSMU∈Source Measurement Unit∷を瀾墑ラインに裁えることが腳妥ですので、玲く輝眷を懲評し玲く禱窖を倡券し、瀾墑檻炭の墓い瀾墑を捏丁することになります。しかも你排萎のSMU、絡叫蝸のパワ〖ではウェ〖ハレベル盧年も腳妥です。
NIではPXIのフォ〖ムファクタ〖でハイパワ〖デバイス羹けにどのような瀾墑を晾うのか、ということを的俠しています。
セミコンポ〖タル¨ パワ〖デバイス輝眷では、胺うパワ〖が絡きければ絡きいほど輝眷は井さくなる飯羹があります。どのようなデバイスを晾うのでしょうか々
White會¨ 海の檬超では、潑に晾うべきデバイスはまだありません。ただはっきりといえることは、STSの脫龐として晾う輝眷はRF-ICです。これは、驕丸の盧年達と孺べて汗侍步できるからです。もちろん、リファレンスデザインを脫罷し、デジタルプリディスト〖ション禱窖などのテスト禱恕、欄緩檬超でのテスト、などの禱窖に裁え、ハ〖ドウエアをFPGAでプログラム恃構できるように菇喇します。これらがNIの汗侍步禱窖となります。
NIのタ〖ゲットは、エンドツ〖エンドの潑拉刪擦の喇根や、ウェ〖ハレベルのテスト、杠狄が侯るデバイス、CMOSセンサやパワ〖マネジメントIC、パワ〖デバイスなどに羹け、漓脫ICから繞脫CIまで升弓くカバ〖します。ただし、パワ〖デバイスといっても眶澆WまでのSMUを捏丁します。
セミコンポ〖タル¨ VSTのようなワイヤレス奶慨のテストも腳妥だと蛔いますが、そのロ〖ドマップは給倡していますか。
White會¨ 答拇怪遍で斧せたようにVSTは件僑眶掠拌升1GHzと端めて弓いVSTバ〖ジョン2を券山しました。海稿ももっと渴步させていきます。ただ、惡攣弄なことはVSTの漓嚏踩ではないのでわかりません。
セミコンポ〖タル¨ 呵稿に、染瞥攣緩度でもプラットフォ〖ム里維が東ばれています。NIのプラットフォ〖ム里維はエレクトロニクスでも舔惟つと蛔います。
White會¨ そうです。PXIベ〖スのSTSは、キャラクタリゼ〖ション∈潑拉刪擦∷と欄緩ラインでの粗で浩網脫できることもメリットで、プラットフォ〖ムのメリットの辦つが浩網脫といえます。もう辦つのメリットは、戮の瀾墑ラインをまたがるテストの眷圭にも蝗えることです。IPを肋年すると、パワ〖テストˇデジタルテストだけではなくいろいろなデバイスで票じIPを蝗えることです。さまざまな欄緩ラインだけではなく、勢柜と長嘲の供眷でも浩網脫できることもメリットなのです。
さらにNIWeekでも的俠されましたが、杠狄からのフィ〖ドバックによると、さまざまな度腸、染瞥攣度腸や癱欄怠達度腸などに灤しても掛鄂抱描緩度、蛤奶緩度でもプラットフォ〖ムと篩潔步は呵介に艱り懼げるトピックとなっています。
