Intel呵絡(luò)のマレ〖シア稿供鎳供眷のクリ〖ンル〖ムに掐ってきた!
マレ〖シアにあるIntel呵絡(luò)の稿供鎳供眷のクリ〖ンル〖ムにバニ〖ス〖ツ∈痰啃搬∷を緬て掐って斧池してきた。痰啃搬緬脫のレベルは、供鎳によって漣供鎳と票じ呵も阜しい窗鏈劉灑の痰啃搬緬脫レベルからガウン緬脫まで供鎳ごとに嘿かくわかれていた。海攙は、シリコンウェ〖ハをダイに磊り叫しダイ覺輪でテストしテ〖プに甚掐するまでのアセンブリ供鎳の漣檬超を繼靠で疽拆しよう。
勢柜やアイルランド、イスラエルの漣供鎳供眷から流られてきたシリコンウェ〖ハからダイに磊り叫しトレイに事べてSingulated Die Sort Tester∈SDX∷と鈣ばれるソ〖タで圭容を聯(lián)侍し、圭呈墑だけテ〖プに甚掐し鼻茶フィルムのようにリ〖ルに船きとるまでの供鎳を、ペナン噴の灤催の塑炮のクリムˇハイテク供度媚孟∈マレ〖シアˇケダ劍クリム∷にあるIntelマレ〖シア供眷クリムˇキャンパスで乖っている。家柒でKMDSDP(KuliM Die Sort Die Prep)とよばれる瀾隴卉肋である。なお、繼靠唬逼や峽不怠亨やノ〖トの積ち哈みは敦賄されたため、繼靠は螟莢唬逼と山淡されたもの笆嘲はIntelから捏丁されたものである。
(1)ダイˇプリパレ〖ション
KMDSDPに羌墑されたウェ〖ハ(哭1、2)は、まず微燙甫酸で泅饒步し、ダイシングテ〖プで儡緬瘦積される。このような覺輪のシリコンウェ〖ハは、(哭3)によりダイにカットされ∈ダイシングともスクライビングとも鈣ばれる∷∈哭4∷、ロボットによりダイを箭推するトレイに極瓢弄に敗很されて(哭5、6)、肌のソ〖ト∈圭容冉年聯(lián)侍∷供鎳に敗流される。
哭1 ダイシングテ〖プで儡緬瘦積されたシリコンウェ〖ハ 叫諾¨Intel
哭2 ダイシング漣のウェ〖ハの呵姜謄渾浮漢 叫諾¨Intel
哭3 ずらりと事んだレ〖ザ〖を脫いたダイシングマシン凡 叫諾¨Intel
哭4 ロボットがダイシングの貉んだウェ〖ハからダイを1改ずつ艱り叫して漓脫トレイに箭羌 叫諾¨Intel
哭5 ダイを箭羌する漓脫トレイ、躥柜瀾の矢機が斧える。トレイは輥いFOUPボックスに箭羌されて嚷流される 叫諾¨クリ〖ンル〖ム嘲で鷗績脫トレイを螟莢唬逼
哭6 艱り叫したダイをトレイに敗很する劉彌凡 叫諾¨Intel
(2)ダイソ〖ト
ダイの排丹弄盧年を乖うソ〖ト劉彌∈Singulated Die Sort Tester、SDX∷(哭7)は4檬5誤の芹彌された20駱のテストセル(哭8)で菇喇され20改のダイを票箕にテストできるようになっており、ここで稍紊墑や你拉墻墑を聯(lián)侍する。テストセルにはテスト脫答饒が箭羌されており、テスト灤據(jù)のCPU/GPUごとに答饒を詞帽に汗し侖えられるように答饒に艱っ緘がついている。なお、このテスト脫答饒(哭9)やテストセルは、家柒∈マレ〖シア供眷SIMS嬸嚏∷で柒瀾され、家嘲への攫鼠銑碧を松いでいる。
哭7 ∈懼∷ダイテストシステム∈ダイソ〖タ∷婁燙、∈布∷ダイテストシステムの漣燙 叫諾¨Intel
哭8 ソ〖タシステムのテストセル 叫諾¨Intel
哭9 20駱のテストセルそれぞれに箭羌されている極踩瀾テスト脫答饒 叫諾¨Intel
(3)トレイからキャリアテ〖プへ
ダイソ〖トで圭呈したダイのみキャリアテ〖プへ甚掐されて∈哭10、11∷、ペナン噴にあるアッセンブリ供鎳へ流られる。
哭10 ソ〖タとキャリアテ〖プ甚掐供鎳粗を瘤乖する極瓢嚷流賈∈AGV∷ 叫諾¨Intel
哭11 圭呈したダイは冉年グレ〖ドごとにキャリアテ〖プに甚掐され、鼻茶のフィルムリ〖ルのような妨覺のリ〖ルに船き艱られてペナンキャンパスのアセンブリ呵姜テスト供鎳へ流られる。 叫諾¨Intel
肌攙は、ペナンキャンパスのMeteor Lakeアッセンブル + 呵姜テスト供鎳を疽拆しよう。
